上海E+H雷达物位计 E+H雷达物位计工作原理：微波物位计工作方式类似雷达：向被测目标发射微波，由目标反射的回波返回发射器被接收，与发射波进行比较，确定目标存在并计算出发射器到目标的距离。
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E+H 50W4H-HC0A1AA0AA4AA
E+H 50P1F-AA1A1A0AAAA
E+H 65F15-AE2AG1AABAA
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上海E+H雷达物位计 E+H雷达物位计FMR230系列优点：
经济的两线制技术:
是差压、浮子和浮筒式物位计的可靠替代品。
采用两线制技术，有效的降低布线成本，且易于实现与现有系统的集成
非接触式测量
测量几乎不受介质特性影响。
通过数文引导式菜单轻松进行现场操作.
通过Endress+Hauser的操作软件便于进行仪表调试、文件编制和故障诊断
频率范围采用C波段
支持HART 或PROFIBUS PA以及FF基金会现场总线协议
耐高温:
适用于过程温度高达+200 °C （392 °F）的测量场合
采用高温型天线时过程温度可达 400 °C （752 °F）
用于物位监测（MIN, MAX） ，符合 IEC 61508/IEC 61511-1标准的要求，通过了SIL 2认证
选项: 气密性电缆入口，提高过程的安全性
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E+H 50P1F-EC0A1AACZAAAA
E+H 72F40-SE1AA1AAA4AW
E+H 72F15-SE1AA1AAA4AW
E+H 50W25-UA0A1AA0A4AA
E+H 72W50-SE0AAA1AAC4AA
E+H 50P25-EA0A1A0AAAA
恩格斯豪斯雷达物位计发射功率很低的极短的微波通过天线系统发射并接收。雷达波以光速运行。运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。一种特殊的时间延伸方法可以确保极短时间内稳定和精确的测量。即使存在虚假反射的时候，的微处理技术和软件也可以准确地分析出物位回波。通过输入容器尺寸，可以将上空距离值转换成与物位成正比的信号。仪表可以空仓调试。在固体测量中的应用可以使用K-频段的高频传感器。由于信号的聚焦效果非常好，料仓内的安装物或仓壁的粘附物都不会影响测量E+H 80F80-AD2SAAAAAA
E+H 80F25-AD2SAAAAAA
E+H 83F80-AD2SAAAAAA
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E+H 50W1F-UC0A1AA0A4AA
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E+H 53P1H-EC0B1BA0ABAA
E+H 53P1Z-EH2B1BA0ABAA
E+H 50W3H-HC0A1AA0ABAA
E+H 50W5H-HC0A1AK1ABAA
E+H 50W4F-HC0A1AK2ABAA
E+H 53W65-HH0B1BA0ABAA
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E+H 50W1Z-HC0A1AA0ABAA
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E+H雷达物位计选型事项：
雷达和多数的测量仪表一样，选型无非是以下三个方面：1、介质特性方面 有无腐蚀性、粘附性如何、磨损力度如何、介电常数如何 等等，根据这些选择缆绳的类型和仪表特征 2、容器、环境特性方面 容器尺寸如何、是否有障碍物或者搅拌、安装要求如何、量程、结构、环境是否需要防爆 3、控制要求方面要什么信号输出？是否需要就地显示？精度有何要求？分辨力？供电要两线还是4线？
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E+H 50P1H-EC1A1A10AAAA
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E+H 10W32-UAGA1RA0B5AA
E+H 10W32-UAGA1AA0A4AA
E+H 10W40-UAGA1AA0B4AA
E+H 10W1H-UCGA1AA0B4AA

E+H雷达物位计用途：雷达物位计采用微波脉冲的测量方法，并可在工业频率波段范围内正常，波束能量低，可安装于各种金属、非金属容器或管道内，对液体、浆料及颗粒料的物位进行非接触式连续测量。适用于粉尘、温度、压力变化大，有惰性气体及蒸汽存在的场合。雷达物位计对人体及环境均无伤害，还具有不受介质比重的影响，不受介电常数变化的影响，不需要现场校调等优点，不论是对工业需要，还是对顾客经济实惠的考虑，都是不错的选择。